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SUMMARY:JT du College français de métrologie : IA\, digitalisation & métrologie
DESCRIPTION:Lil \n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\nTout savoir sur le lien entre IA\, digitalisation\, deep learning… et métrologie ! \nLe LNE et le CFM vous invitent à une Journée Technique exceptionnelle pour comprendre comprendre le lien entre IA\, digitalisation et métrologie. \nFiabiliser vos données ? Exploiter le potentiel de l’IA ? Intégrer des outils comme le Certificat d’Étalonnage Numérique ? \nAutant de questions auxquelles les intervenants experts de cette JT répondront à travers des retours d’expérience concrets\, un exemple d’estimation des incertitudes pour qualifier des équipements intégrant de l’IA\, et bien sûr un dialogue sur les liens entre métrologues et data scientists. \nUne opportunité unique d’élargir vos compétences et d’envisager l’avenir de la métrologie sous un nouvel angle. \nLa JT aura lieu au LNE : 1 rue Gaston Boissier – Paris 15 \nTarifs Adhérents CFM : -50 % / Clients LNE : -25 % \n  \nProgramme\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n 
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SUMMARY:IFTS MEETINGS
DESCRIPTION:les IFTS MEETINGS auront lieu le jeudi 6 novembre 2025 \nà Paris\, au Novotel – Paris Est. \nSite web IFTS \n 
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SUMMARY:WNE 2025
DESCRIPTION:WNE nous donne rendez-vous du 4 au 6 novembre 2025 à Paris Nord Villepinte \nSite Web WNE 2025 \n 
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SUMMARY:parts2clean - Stuttgart
DESCRIPTION:Foire parts2clean à Stuttgart (Allemagne) \n  \nInscriptions
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SUMMARY:JT Cybersécurité 2025
DESCRIPTION:Pour la onzième année consécutive\, la commission technique « Cybersécurité des Systèmes Industriels » de l’Exera organisait sa journée technique. \nCette journée était ouverte aux spécialistes et aux non-spécialistes de la cybersécurité\, que ce soient des ressortissants des membres de l’association ou bien d’autres visiteurs de tous horizons. \nElle visait à apporter aux participants une information sur les dernières évolutions de l’environnement légal et sur les normes en vigueur\, et surtout une occasion d’échanger concrètement sur les défis liés à la cybersécurité auxquels est confronté le monde industriel\, et sur les solutions envisagées. L’objectif demeurant de donner chaque année un peu plus la parole à des intervenants industriels\, l’Exera avait instauré une table ronde pour la première fois en 2025\, afin d’accroitre les interactions et le brassage des idées. Elle a été appréciée par nos auditeurs. Cette journée offrait enfin l’occasion de rencontrer\, lors des pauses\, une dizaine ‘exposants qui présentaient leurs solutions techniques dans l’espace de convivialité prévu à cet effet. Le déjeuner a été un troisième moment de discussions fructueuses. \nLe programme et la liste des exposants sont sous ce lien : Programme 2025 \nNous étions une petite centaine de personnes présentes\, après quelques désistements de dernière minute : JT CSI Exera 2025 Liste-des-participants \nLes interventions ont été réalisées avec l’appui des supports suivants : \n2_AutomationHub_CRA_J6P. Hauet.pdf \n3-NaTran-Securite-des-SI-Industriels.pdf \n4-Stormshield_EXERA_2025_VDEF.pdf \n5-DIATEAM_EXERA 2025.pdf \n6-Waterfall-Exera 2025.pdf \n7-Renault & Systerel Exera 2025.pdf \n8-Schneider-JT-CSI-Exera 2025.pdf \n9-CERT-Aviation-France-Exera 2025.pdf \n10_EXERA-EES-Clemessy.pdf \n11_WillisTowersWatson-Cyber-Assurance-Industrielle.pdf \n12-1-LNE_Certification_cyber.pdf \n12-2-LEXFO-Certification pour LNE.pdf \n13-Cyberium-Solution-OT-Exera 2025.pdf
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LOCATION:Maison de la RATP\, 189\, rue de Bercy\, Paris\, Veuillez sélectionner une région\, une état ou une province.\, 75012\, France
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SUMMARY:LIST Tech Days 2025
DESCRIPTION:Journées techniques au CEA LIST \nnon organisées par l’Exera mais portées à sa connaissance \nLien vers l’événement
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SUMMARY:JT Instrumentation Industrielle
DESCRIPTION:Journée technique organisée par l’Exera. \nJeudi 5 juin 2025 de 8H30 à 17H30 à ChateauForm’City\, 4 esplanade de la Manufacture\, 92130\, Issy-les-Moulineaux \nPrésentation : \nL’Association EXERA et ses commissions techniques « Débitmétrie – Niveaumétrie »\, « Cybersécurité des systèmes industriels » et « Transmetteurs industriels et Réseaux » organisaient une journée technique consacrée à l’Instrumentation Industrielle. \nCette journée de concertation était ouverte aux spécialistes et aux non-spécialistes de l’instrumentation\, que ce soient des ressortissants des membres de l’Association ou bien d’autres visiteurs extérieurs. Elle a apporté aux participants une information sur les innovations techniques liées aux capteurs de débit\, pression et température mais également sur les technologies disponibles sur le marché pour mieux configurer/gérer/communiquer avec ces appareils de mesure en milieu industriel (stratégie d’archivage des données\, communication sans fil courte ou longue portée\, problématique ATEX). Ont été présentées à la fois des problématiques exploitant et des solutions offertes par les fabricants d’instrumentation industrielle. \nÉgalement ouvert aux journalistes de la presse spécialisée\, cet événement a aussi offert l’occasion de rencontrer\, lors des pauses\, des exposants qui présentaient leurs solutions techniques. Le petit-déjeuner et le déjeuner ont été d’autres moments de rencontres fructueuses. \nNous étions une petite cinquantaine de personnes présentes\, après quelques désistements de dernière minute : 20250605-JT-Instrum-Liste-des-participants.pdf \nLe programme et la liste des exposants sont disponibles : Exera-JT-Instrum-Programme-v51.pdf \nLes interventions ont été réalisées avec l’appui des supports suivants : \nCETIAT : debitmetrie-dynamique.pdf \nKROHNE Optimass.pdf \nCT-TIR-Mesure-de-temperature-non-intrusive.pdf \nAir-Liquide-Mesure de température par infrarouge.pdf \nEndress&Hauser-Heartbeat-Technology.pdf \nEDF-Solution LOGHART.pdf \nSensoTech_Mesure de concentration et densité des liquides par ultrason.pdf \n CT CSI-Cybersécurité dans le domaine industriel.pdf
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CATEGORIES:Evénements Exera
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SUMMARY:Webinaire ZEISS sur la Microscopie optique et l'IA
DESCRIPTION:Webinaire ZEISS\n\nMicroscopie optique\n\nL'analyse d'images et l'IA au service de la R&D et du contrôle qualité des matériaux\nInscriptions \n 
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