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JT du College français de métrologie : IA, digitalisation & métrologie

6 novembre

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Tout savoir sur le lien entre IA, digitalisation, deep learning… et métrologie !

Le LNE et le CFM vous invitent à une Journée Technique exceptionnelle pour comprendre comprendre le lien entre IA, digitalisation et métrologie.

Fiabiliser vos données ? Exploiter le potentiel de l’IA ? Intégrer des outils comme le Certificat d’Étalonnage Numérique ?

Autant de questions auxquelles les intervenants experts de cette JT répondront à travers des retours d’expérience concrets, un exemple d’estimation des incertitudes pour qualifier des équipements intégrant de l’IA, et bien sûr un dialogue sur les liens entre métrologues et data scientists.

Une opportunité unique d’élargir vos compétences et d’envisager l’avenir de la métrologie sous un nouvel angle.

La JT aura lieu au LNE : 1 rue Gaston Boissier – Paris 15

Tarifs Adhérents CFM : -50 % / Clients LNE : -25 %

 

Programme

 

Détails

Date :
6 novembre
Catégorie d’Évènement:
Évènement Tags:

Acronymes

CT – Commission technique
SIS – Systèmes Instrumentés de Sécurité
EIF – Entreprise Industrielle du Futur
CSI – Cybersécurité des systèmes industriels
3SP – Systèmes de contrôle-commande, Supervision, Simulation et Programmation
NTI – Nouvelles Technologies Instrumentales (ex-MNT)
DEB-NIV – Débitmétrie – Niveaumétrie
TIR – Transmetteurs Industriels et Réseaux
AI-DS – Analyseurs Industriels – Détection Sécurité
MCO – Maintien en Conditions Opérationnelles

–

CA – Conseil d’administration
AGO – Assemblée générale ordinaire
AGE – Assemblée générale extraordinaire
CP – Commission “Programme”
ComiTech – Comité technique