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CT AI-DS

13 mars

CT Analyseurs industriels – Détection sécurité

Réunion en mode mixte organisée par l’Exera et exceptionnellement l’INRS dans ses locaux parisiens.

Détails

Date :
13 mars
Catégorie d’Évènement:

Lieu

INRS
65 boulevard Richard Lenoir
Paris, 75011 France
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Acronymes

CT – Commission technique
SIS – Systèmes Instrumentés de Sécurité
EIF – Entreprise Industrielle du Futur
CSI – Cybersécurité des systèmes industriels
3SP – Systèmes de contrôle-commande, Supervision, Simulation et Programmation
NTI – Nouvelles Technologies Instrumentales (ex-MNT)
DEB-NIV – Débitmétrie – Niveaumétrie
TIR – Transmetteurs Industriels et Réseaux
AI-DS – Analyseurs Industriels – Détection Sécurité
MCO – Maintien en Conditions Opérationnelles

CA – Conseil d’administration
AGO – Assemblée générale ordinaire
AGE – Assemblée générale extraordinaire
CP – Commission “Programme”
ComiTech – Comité technique