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Webinaire ZEISS sur la Microscopie optique et l’IA

22 mai @ 09:00 - 10:00

Webinaire ZEISS

Microscopie optique

L'analyse d'images et l'IA au service de la R&D et du contrôle qualité des matériaux

Inscriptions

 

Détails

Date :
22 mai
Heure :
09:00 - 10:00
Catégorie d’Évènement:
Évènement Tags:

Acronymes

CT – Commission technique
SIS – Systèmes Instrumentés de Sécurité
EIF – Entreprise Industrielle du Futur
CSI – Cybersécurité des systèmes industriels
3SP – Systèmes de contrôle-commande, Supervision, Simulation et Programmation
NTI – Nouvelles Technologies Instrumentales (ex-MNT)
DEB-NIV – Débitmétrie – Niveaumétrie
TIR – Transmetteurs Industriels et Réseaux
AI-DS – Analyseurs Industriels – Détection Sécurité
MCO – Maintien en Conditions Opérationnelles

CA – Conseil d’administration
AGO – Assemblée générale ordinaire
AGE – Assemblée générale extraordinaire
CP – Commission “Programme”
ComiTech – Comité technique