Association des EXploitants d'Equipements de mesure, <br>de Régulation et d'Automatismes
Lil Tout savoir sur le lien entre IA, digitalisation, deep learning… et métrologie ! Le LNE et le CFM vous invitent à une Journée Technique exceptionnelle pour comprendre comprendre le lien entre IA, digitalisation et métrologie. Fiabiliser vos données ? Exploiter le potentiel de l’IA ? Intégrer des outils comme le Certificat
Pour la douzième année consécutive, la commission technique « Cybersécurité des Systèmes Industriels » de l’Exera organise sa journée technique. Cette journée est ouverte aux spécialistes et aux non-spécialistes de la cybersécurité, que ce soient des ressortissants des membres de l’Association ou bien d’autres visiteurs de tous horizons. Elle vise
À Paris, en 2026, CEM Connect sera l’unique événement 100 % consacré à la mesure, au contrôle et à l’inspection. Au programme : * L’Intelligence Artificielle dans la mesure et l’inspection en 2026. C’est quoi ? * CND : Contrôles et inspection des oeuvres d’art * Échanges informels, convivialité * Conférence hors
Foire parts2clean à Stuttgart (Allemagne) Inscriptions
Lille Grand Palais Brochure
Webinaire ZEISS Microscopie optique L’analyse d’images et l’IA au service de la R&D et du contrôle qualité des matériaux Inscriptions
WNE nous donne rendez-vous du 4 au 6 novembre 2025 à Paris Nord Villepinte Site Web WNE 2025
les IFTS MEETINGS auront lieu le jeudi 6 novembre 2025 à Paris, au Novotel – Paris Est. Site web IFTS
Journées techniques au CEA LIST non organisées par l’Exera mais portées à sa connaissance Lien vers l’événement
Pour la onzième année consécutive, la commission technique « Cybersécurité des Systèmes Industriels » de l’Exera organisait sa journée technique. Cette journée était ouverte aux spécialistes et aux non-spécialistes de la cybersécurité, que ce soient des ressortissants des membres de l’association ou bien d’autres visiteurs de tous horizons. Elle visait